Анализатор цепей цифровой лабораторный KEYSIGHT TECHNOLOGIES E5071C E5071C-285
(Москва, Пресненская наб., 12 «Башня Федерация. Москва-Сити», этаж 42)
ХАРАКТЕРИСТИКИ
ОПИСАНИЕ
Цифровой лабораторный анализатор цепей Keysight Technologies E5071C предназначен для точного измерения характеристик электронных цепей. Устройство обеспечивает широкий диапазон частот от 100 кГц до 8,5 ГГц, что позволяет использовать его для анализа различных компонентов и систем. Модель E5071C оснащена четырьмя встроенными портами, что расширяет возможности тестирования и позволяет проводить комплексные измерения.
Анализатор характеризуется динамическим диапазоном 123 дБ и выходной мощностью +10 дБм, что гарантирует высокую точность и чувствительность измерений. Подключение к внешним устройствам осуществляется через различные интерфейсы, включая USB, GPIB и LAN, обеспечивая гибкость в интеграции с лабораторным оборудованием и автоматизированными системами. Прибор поддерживает высокую скорость измерений, достигая 8 мс при полной двухпортовой калибровке с 401 точкой.
Устройство позволяет проводить измерения дифференциальных и обычных характеристик с использованием S-параметров смешанного режима. Дополнительно предусмотрена возможность подключения внешних 16-портовых измерительных блоков для расширения функционала. Функция измерения со смещением частоты и анализ во временной области способствуют повышению точности определения характеристик исследуемых цепей.
Keysight Technologies E5071C идеально подходит для использования в научно-исследовательских лабораториях, на производстве и в образовательных учреждениях, где требуется высокоточное тестирование и анализ электронных компонентов. Прибор внесен в Госреестр средств измерений под номером 79642-20 до 20.11.2025 г., что подтверждает его соответствие метрологическим стандартам.
• Высокая скорость измерений, 8 мс при полной двухпортовой калибровке, 401 точка;
• Измерение дифференциальных и обычных характеристик при использовании S-параметров смешанного режима;
• Опция внешних 16-портовых измерительных блоков;
• Измерение со смещением частоты, анализ во временной области, для увеличения точности определения характеристик.
